Tests de production

Permettez des tests à vitesse réelle et une couverture de criblage des produits sans précédent

Analyseurs MIPI
Analyseurs SLVS-EC
Générateurs MIPI
Modules de Test
Produits de Sondes

Le processus de fabrication des semi-conducteurs repose sur des équipements de test automatisés (ATE) afin d’assurer la qualité tout au long des différentes étapes de fabrication des wafers et d’assemblage. Malgré la transformation continue de l’industrie du test au cours des dernières années, de nombreux défis subsistent, principalement liés à la nécessité d’effectuer des tests à vitesse réelle, y compris au niveau des wafers.

La série D d’Introspect Technology répond au défi des tests à vitesse réelle sur toute station de test sur wafer ou de test final. Grâce à ses fonctions intégrées d’alimentation, d’horloge et de contrôle, la série D répond non seulement aux exigences des tests de fabrication à grand volume (HVM) pour les interfaces SerDes complexes, mais elle permet également de remplacer complètement les équipements ATE conventionnels et hérités.

Défis de l'industrie

Tests fonctionnels à vitesse réelle
Tests multisites
Tests simultanés de multiples protocoles
Traitement des vecteurs de test et analyse des cartes de défaillance

Capacités d'Introspect

Génération et analyse de motifs de test jusqu’à 56 Gbit/s
Jusqu’à 32 canaux par module de test
Programmation à tout débit et contrôles analogiques indépendants par canal
Contrôles de temporisation et de tension calibrés de qualité instrument
Injection et mesure de la gigue en environnement de production

Analyseurs MIPI

Analyseur MIPI D-PHY et C-PHY SV5C-DPRXCPRX

Analyseur combo MIPI D-PHY (jusqu’à 8,7 Gbit/s) et C-PHY (jusqu’à 6,5 Géch/s) haute performance

Analyseur MIPI C-PHY SV5C-CPRX

Analyseur MIPI C-PHY haute performance jusqu'à 6,5 Géch/s

SV5C-DPRX Analyseur MIPI D-PHY

Analyseur MIPI D-PHY haute performance jusqu'à 8,7 Gbit/s

SV4E-DPRXG Carte d’acquisition MIPI D-PHY

Capturez et analysez les données capteur D-PHY CSI-2

SV4E-CPRXG MIPI C-PHY Frame Grabber

Mention très honorable : Capture et analyse des données de capteur C-PHY CSI-2

SV4E-DPRXCPRX Émulateur de dispositif de réception MIPI

Émulateur de dispositif de réception MIPI pour D-PHY et C-PHY

Analyseur MIPI D-PHY et C-PHY SV3C-DPRXCPRX

Analyseur combo MIPI D-PHY (jusqu’à 3,1 Gbit/s) et C-PHY (jusqu’à 3,1 Géch./s) haute performance

Émulateur de dispositif de réception SV4E-CPRX pour MIPI C-PHY

Émulateur de dispositif de réception pour MIPI C-PHY

Émulateur de dispositif de réception SV4E-DPRX pour MIPI D-PHY

Émulateur de dispositif de réception MIPI pour D-PHY

Analyseur MIPI C-PHY SV3C-CPRX

Analyseur MIPI C-PHY haute performance jusqu'à 3,1 Géch/s

SV3C-DPRX Analyseur MIPI D-PHY

Tester et valider les ports émetteurs basés sur MIPI jusqu’à 3,1 Gbit/s

Analyseurs SLVS-EC

Analyseur de protocole SV4E-SLVSEC

Analyseur de protocole SLVS-EC à 16 voies, 6,5 Gbps

Générateurs MIPI

Émulateur de dispositif de transmission MIPI SV4E-DPTXCPTX

Émulateur de dispositif de transmission pour C-PHY et D-PHY

Générateur MIPI C-PHY SV3C-CPTX

Générateur MIPI C-PHY haute performance jusqu'à 4,5 Géch/s

Générateur MIPI D-PHY SV3C-DPTX

Générateur MIPI D-PHY haute performance jusqu’à 6,5 Gbit/s

Modules de Test

Module de test MIPI à connexion directe SV4D-DPTX

Module de test MIPI à connexion directe ultra-compact avec 4 ports DPTX

Module de test MIPI à connexion directe SV4D-CPRXDPRX

Module de test MIPI à connexion directe ultra-compact avec 2 ports CPRX/DPRX

Module de test SerDes à connexion directe SV3D-14

Module de test ultra-compact à 32 voies à monter sur toute carte applicative (14,1 Gbit/s)

Module de test SerDes à connexion directe SV3D-12

Module de test ultra-compact à 32 voies pour montage sur toute carte d'application (12,5 Gbit/s)

Module de test SerDes à connexion directe SV3D-8

Module de test ultra-compact à 32 voies à monter sur n’importe quelle carte applicative (8 Gbit/s)

SV3D-4

Module de test ultra-compact à 32 voies pour montage sur toute carte d’application (4 Gbps)

Module de test SerDes à connexion directe SV2D-32

Testeur haute performance se montant directement sur n’importe quelle carte de charge (32 Gbit/s)

Module de test SerDes à connexion directe SV2D-28

Testeur haute performance se montant directement sur n’importe quelle carte de charge (28 Gbit/s)

Module de test SerDes à connexion directe SV1D-14

Se monte directement sur une carte de charge ATE (14 Gbit/s)

Module de test SerDes à connexion directe SV1D-12

Testeur hautement intégré se montant directement sur une carte de charge ATE (12,5 Gbit/s)

Module de test SerDes à connexion directe SV1D-8

Se monte directement sur une carte de charge ATE (8 Gbit/s)

SV1D-4

Testeur hautement intégré qui se monte directement sur une carte de charge ATE (4 Gbps)

Produits de Sondes

Sonde active universelle PV2

Solution de sondage avec une largeur de bande de 8 GHz

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