PCI Express (PCIe) est une interface SerDes à très grand succès, utilisée dans des dispositifs informatiques couvrant un large éventail d’applications. Aujourd’hui à sa quatrième génération, avec le développement continu de sa cinquième génération déjà en cours, l’interface PCIe connaît d’importantes avancées technologiques qui nécessitent des outils de développement et de validation de pointe. Par exemple, les dispositifs PCIe Gen4 fonctionnent à des débits de 16 Gbit/s par voie et doivent offrir des taux d’erreur binaire (BER) extrêmement faibles, même sur des canaux de transmission contraints et présentant des pertes importantes, tels que les cartes de circuits imprimés. Cette exigence a conduit à la mise en œuvre d’algorithmes complexes d’égalisation et d’adaptation qui repoussent les limites du traitement analogique du signal, du traitement numérique du signal et du traitement des données au niveau protocolaire.

Bien que la vérification de conception et la caractérisation électrique des liaisons PCIe puissent sembler complexes, Introspect Technology a développé des outils spécifiquement conçus pour relever ces défis. Nos solutions sont hautement parallèles, permettant l’analyse simultanée et réaliste de dispositifs réels sous test, tout en offrant une grande polyvalence grâce à des capacités de génération de séquences d’entraînement et de réglage de l’égalisation.

Défis de l'industrie

  • Débits de données extrêmement élevés
  • Nombre élevé de voies de transmission
  • Tests de tolérance à la gigue des récepteurs en condition d’œil fermé
  • Exigences strictes en matière de tests du diagramme de l’œil des émetteurs
  • Topologies de canaux complexes
  • Algorithmes complexes d’entraînement de l’égalisation de liaison

Capacités d'Introspect

  • Prise en charge de débits allant jusqu’à 32 Gbit/s pour le développement de la norme Gen5
  • Jusqu’à 32 voies par testeur
  • Injection intégrée de gigue et de bruit de tension sur chaque voie
  • Récupération d’horloge et de données (CDR) matérielle intégrée sur chaque voie
  • Génération intégrée de désaccentuation sur chaque voie
  • Génération flexible de motifs et machines à états d’entraînement

BERT Série et Parallèle

Testeur SerDes personnalisé SV3C-14
Testeur hautement parallèle pour DDR, applications à horloge transmise et à horloge intégrée ...
Testeur SerDes personnalisé SV3C-12
Testeur hautement parallèle pour les applications DDR, à horloge transmise et à horloge embarquée, ...
Testeur SerDes personnalisé SV3C-8
Testeur hautement parallèle pour applications DDR, à horloge transmise (clock forwarded) et à ...
Testeur SerDes personnalisé SV3C-4
Testeur hautement parallèle pour applications DDR, à horloge transmise et à horloge intégrée ...
Testeur SerDes personnalisé SV1C-14
Testeur SerDes pour les applications à horloge transmise et intégrée jusqu’à 14,1 Gbit/s
SV1C-12 Testeur SerDes personnalisé
Testeur SerDes pour applications à horloge transmise et à horloge embarquée jusqu'à 12,5 Gbit/s
SV1C-8 Testeur SerDes personnalisé
Testeur SerDes pour applications jusqu'à 8 Gbit/s
SV1C-4 Testeur SerDes personnalisé
Testeur SerDes pour applications jusqu’à 4 Gbit/s

Exercisateurs DDR et GDDR

Testeur SerDes personnalisé SV7C
Testeur de taux d'erreur binaire (BERT) et exerciseur et analyseur de protocole à alignement de ...

Modules de Test

Module de test SerDes à connexion directe SV3D-14
Module de test ultra-compact à 32 voies à monter sur toute carte applicative (14,1 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV3D-12
Module de test ultra-compact à 32 voies pour montage sur toute carte d'application (12,5 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV3D-8
Module de test ultra-compact à 32 voies à monter sur n’importe quelle carte applicative (8 Gbit/s)
SV3D-4
Module de test ultra-compact à 32 voies pour montage sur toute carte d’application (4 Gbps)
Module de test SerDes à connexion directe SV1D-14
Se monte directement sur une carte de charge ATE (14 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV1D-12
Testeur hautement intégré se montant directement sur une carte de charge ATE (12,5 Gbit/s)
SV1D-4
Testeur hautement intégré qui se monte directement sur une carte de charge ATE (4 Gbps)

Produits de Sondes

Tête d’échantillonnage à distance RSH2
12 sondes actives intégrées dans un format compact et blindé
RSH1 Tête d’échantillonnage à distance
Sondage propre des bus parallèles
Sonde active universelle PV2
Solution de sondage avec une largeur de bande de 8 GHz
PV1 Active Probe
Sonde active universelle PV1
Solution de sondage avec une largeur de bande de 5 GHz

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