• Capacité de test multisite entièrement parallèle, avec contrôle individuel des motifs et du TEB par voie
  • Solution autonome avec séquenceurs d’alimentation et synthétiseurs d’horloge intégrés
  • Automatisation avec capacité de script intégrée pour minimiser le temps de test
  • Encombrement minimal et exigences d’E/S réduites
Solutions populaires

AVANTAGES

  • Capacité de test multisite entièrement parallèle, avec contrôle individuel des motifs et du TEB par voie
  • Solution autonome avec séquenceurs d’alimentation et synthétiseurs d’horloge intégrés
  • Automatisation avec capacité de script intégrée pour minimiser le temps de test
  • Encombrement minimal et exigences d’E/S réduites

Fonctionnalités

Le module de test SerDes à connexion directe SV1D-4 est un testeur hautement intégré qui se monte directement sur une carte d’application ou de test, sans nécessiter de câbles. Il répond au besoin croissant de méthodologies de test parallèles et multisites à des débits de l’ordre du Gbps, au coût total le plus bas possible.

Le SV1D-4 permet de sélectionner en continu un débit de données pouvant atteindre 4 Gbps. Il intègre 8 émetteurs indépendants soumis à des perturbations de signal, notamment l’injection de gigue sinusoïdale et aléatoire, la désaccentuation TX ainsi que l’injection de décalage UI et sous-UI d’une voie à l’autre. Il intègre 8 récepteurs indépendants avec égalisation par canal, une mesure en parallèle du taux d’erreur sur les bits et des commandes permettant une mesure rapide de la marge de l’œil. La communication avec l’équipement de test automatique (ATE) s’effectue de manière transparente via un bus SPI et, en option, via une interface parallèle pour les transferts de données étendus.

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