Idéal pour
- Tests fonctionnels des dispositifs mémoire LPDDR, DDR, GDDR et HBM
- Validation et caractérisation de conception à haut volume
- Automatisation de banc de test incluant alimentations, handlers et contrôle thermique
Principales caractéristiques
- Jusqu’à 192 générateurs de motifs et 192 détecteurs d’erreurs par testeur
- Capacité de test vectoriel leader du secteur
- Technologie avancée de mise en forme de signal par pin
- Suite complète de fonctions de caractérisation : injection de jitter, mesure de jitter, contrôle et analyse d’égalisation, échantillonnage source-synchrone, génération d’œil stressé et tests BER
- Contrôle intégré des manipulateurs et systèmes de handling dans un environnement logiciel unifié
