La série M Series introduit une nouvelle classe de testeurs haute vitesse massivement parallèles, idéale pour la validation fonctionnelle, la collecte de données à grande échelle et la caractérisation. Ces systèmes offrent une précision et une exactitude de mesure de niveau laboratoire, mais à une échelle impossible à atteindre avec des solutions classiques de type Bit Error Rate Tester (BERT).

En parallèle, ils sont programmés et opérés comme des équipements de test automatique (ATE), permettant des tests fonctionnels complets à pleine vitesse. Ces systèmes ne nécessitent pas de refroidissement spécial et peuvent être installés directement sur un banc de test utilisateur, plutôt que dans un laboratoire ATE dédié — d’où le concept ATE-on-Bench.

Idéal pour

  • Tests fonctionnels des dispositifs mémoire LPDDR, DDR, GDDR et HBM
  • Validation et caractérisation de conception à haut volume
  • Automatisation de banc de test incluant alimentations, handlers et contrôle thermique

Principales caractéristiques

  • Jusqu’à 192 générateurs de motifs et 192 détecteurs d’erreurs par testeur
  • Capacité de test vectoriel leader du secteur
  • Technologie avancée de mise en forme de signal par pin
  • Suite complète de fonctions de caractérisation : injection de jitter, mesure de jitter, contrôle et analyse d’égalisation, échantillonnage source-synchrone, génération d’œil stressé et tests BER
  • Contrôle intégré des manipulateurs et systèmes de handling dans un environnement logiciel unifié
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