Le processus de fabrication des semi-conducteurs repose sur des équipements de test automatisés (ATE) afin d’assurer la qualité tout au long des différentes étapes de fabrication des wafers et d’assemblage. Malgré la transformation continue de l’industrie du test au cours des dernières années, de nombreux défis subsistent, principalement liés à la nécessité d’effectuer des tests à vitesse réelle, y compris au niveau des wafers.

La série D d’Introspect Technology répond au défi des tests à vitesse réelle sur toute station de test sur wafer ou de test final. Grâce à ses fonctions intégrées d’alimentation, d’horloge et de contrôle, la série D répond non seulement aux exigences des tests de fabrication à grand volume (HVM) pour les interfaces SerDes complexes, mais elle permet également de remplacer complètement les équipements ATE conventionnels et hérités.

Défis de l'industrie

  • Tests fonctionnels à vitesse réelle
  • Tests multisites
  • Tests simultanés de multiples protocoles
  • Traitement des vecteurs de test et analyse des cartes de défaillance

Capacités d'Introspect

  • Génération et analyse de motifs de test jusqu’à 56 Gbit/s
  • Jusqu’à 32 canaux par module de test
  • Programmation à tout débit et contrôles analogiques indépendants par canal
  • Contrôles de temporisation et de tension calibrés de qualité instrument
  • Injection et mesure de la gigue en environnement de production

Analyseurs MIPI

Analyseur MIPI D-PHY et C-PHY SV5C-DPRXCPRX
Analyseur combo MIPI D-PHY (jusqu’à 8,7 Gbit/s) et C-PHY (jusqu’à 6,5 Géch/s) haute performance
Analyseur MIPI C-PHY SV5C-CPRX
Analyseur MIPI C-PHY haute performance jusqu'à 6,5 Géch/s

 

SV5C-DPRX Analyseur MIPI D-PHY
Analyseur MIPI D-PHY haute performance jusqu'à 8,7 Gbit/s
SV4E MIPI Receive Device Emulator
SV4E-DPRXG Carte d’acquisition MIPI D-PHY
Capturez et analysez les données capteur D-PHY CSI-2
SV4E MIPI Receive Device Emulator
SV4E-CPRXG MIPI C-PHY Frame Grabber
Mention très honorable : Capture et analyse des données de capteur C-PHY CSI-2
SV4E MIPI Receive Device Emulator
SV4E-DPRXCPRX Émulateur de dispositif de réception MIPI
Émulateur de dispositif de réception MIPI pour D-PHY et C-PHY
SV3C DPRX-CPRX
Analyseur MIPI D-PHY et C-PHY SV3C-DPRXCPRX
Analyseur combo MIPI D-PHY (jusqu’à 3,1 Gbit/s) et C-PHY (jusqu’à 3,1 Géch./s) haute performance
SV4E MIPI Receive Device Emulator
Émulateur de dispositif de réception SV4E-CPRX pour MIPI C-PHY
Émulateur de dispositif de réception pour MIPI C-PHY
SV4E MIPI Receive Device Emulator
Émulateur de dispositif de réception SV4E-DPRX pour MIPI D-PHY
Émulateur de dispositif de réception MIPI pour D-PHY
SV3C-CPRX
Analyseur MIPI C-PHY SV3C-CPRX
Analyseur MIPI C-PHY haute performance jusqu'à 3,1 Géch/s
SV3C-DPRX Analyseur MIPI D-PHY
Tester et valider les ports émetteurs basés sur MIPI jusqu’à 3,1 Gbit/s

Analyseurs SLVS-EC

SV4E-SLVSEC
Analyseur de protocole SV4E-SLVSEC
Analyseur de protocole SLVS-EC à 16 voies, 6,5 Gbps

Générateurs MIPI

SV4E MIPI Transmit Device Emulator
Émulateur de dispositif de transmission MIPI SV4E-DPTXCPTX
Émulateur de dispositif de transmission pour C-PHY et D-PHY
Générateur MIPI C-PHY SV3C-CPTX
Générateur MIPI C-PHY haute performance jusqu'à 4,5 Géch/s
Shown: SV3C-DPTX D-PHY Generator
Générateur MIPI D-PHY SV3C-DPTX
Générateur MIPI D-PHY haute performance jusqu’à 6,5 Gbit/s

Modules de Test

Module de test MIPI à connexion directe SV4D-DPTX
Module de test MIPI à connexion directe ultra-compact avec 4 ports DPTX
Module de test MIPI à connexion directe SV4D-CPRXDPRX
Module de test MIPI à connexion directe ultra-compact avec 2 ports CPRX/DPRX
Module de test SerDes à connexion directe SV3D-14
Module de test ultra-compact à 32 voies à monter sur toute carte applicative (14,1 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV3D-12
Module de test ultra-compact à 32 voies pour montage sur toute carte d'application (12,5 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV3D-8
Module de test ultra-compact à 32 voies à monter sur n’importe quelle carte applicative (8 Gbit/s)
SV3D-4
Module de test ultra-compact à 32 voies pour montage sur toute carte d’application (4 Gbps)
Module de test SerDes à connexion directe SV2D-32
Testeur haute performance se montant directement sur n’importe quelle carte de charge (32 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV2D-28
Testeur haute performance se montant directement sur n’importe quelle carte de charge (28 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV1D-14
Se monte directement sur une carte de charge ATE (14 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV1D-12
Testeur hautement intégré se montant directement sur une carte de charge ATE (12,5 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV1D-8
Se monte directement sur une carte de charge ATE (8 Gbit/s)
SV1D-4
Testeur hautement intégré qui se monte directement sur une carte de charge ATE (4 Gbps)

Produits de Sondes

Sonde active universelle PV2
Solution de sondage avec une largeur de bande de 8 GHz

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