Avec l’introduction de la gamme D Series, Introspect Technology a révolutionné la manière dont les ingénieurs produits testent les applications numériques haute vitesse. Notre conception unique de modules enfichables permet des tests haute performance sur n’importe quelle carte de test, tout en éliminant le besoin de câbles.

Malgré la transformation continue de l’industrie du test ces dernières années, de nombreux équipements hérités restent en usage. La série D répond à ce défi en permettant des tests multi-Gbps sur des équipements de test automatique (ATE) existants. Grâce à une alimentation, une horloge et un contrôle entièrement intégrés, la série D couvre les besoins de test et de mesure des interfaces SerDes complexes.

Idéal pour

  • Tests de production IC multi-sites à haut volume
  • Solutions “tester-on-board” pour la caractérisation ou la production
  • Régression firmware, vérification de conception et tests complets en production de dispositifs et systèmes

Principales caractéristiques

  • Jusqu’à 32 générateurs de motifs et détecteurs d’erreurs par testeur
  • Jusqu’à 32 Gbps en codage NRZ et 56 Gbps en codage PAM4
  • Suite complète de sources d’injection de jitter, incluant SSC et génération de wander
  • Suite complète d’égalisation et d’analyse de transmission
  • Régulation de puissance intégrée pour une mise en œuvre simplifiée sur toute carte de test

Modules de Test

Module de test MIPI à connexion directe SV4D-DPTX
Module de test MIPI à connexion directe ultra-compact avec 4 ports DPTX
Module de test MIPI à connexion directe SV4D-CPRXDPRX
Module de test MIPI à connexion directe ultra-compact avec 2 ports CPRX/DPRX
Module de test SerDes à connexion directe SV3D-14
Module de test ultra-compact à 32 voies à monter sur toute carte applicative (14,1 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV3D-12
Module de test ultra-compact à 32 voies pour montage sur toute carte d'application (12,5 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV3D-8
Module de test ultra-compact à 32 voies à monter sur n’importe quelle carte applicative (8 Gbit/s)
SV3D-4
Module de test ultra-compact à 32 voies pour montage sur toute carte d’application (4 Gbps)
Module de test SerDes à connexion directe SV2D-32
Testeur haute performance se montant directement sur n’importe quelle carte de charge (32 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV2D-28
Testeur haute performance se montant directement sur n’importe quelle carte de charge (28 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV1D-14
Se monte directement sur une carte de charge ATE (14 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV1D-12
Testeur hautement intégré se montant directement sur une carte de charge ATE (12,5 Gbit/s)
Module de test SerDes à connexion directe SV1D-8
Se monte directement sur une carte de charge ATE (8 Gbit/s)

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