BERT Série et Parallèle
Testeur hautement parallèle pour DDR, applications à horloge transmise et à horloge intégrée ...
Testeur hautement parallèle pour les applications DDR, à horloge transmise et à horloge embarquée, ...
Testeur hautement parallèle pour applications DDR, à horloge transmise (clock forwarded) et à ...
Testeur SerDes pour les applications à horloge transmise et intégrée jusqu’à 14,1 Gbit/s
Testeur SerDes pour applications à horloge transmise et à horloge embarquée jusqu'à 12,5 Gbit/s
Testeur SerDes pour applications jusqu'à 8 Gbit/s
Exercisateurs DDR et GDDR
Testeur de taux d'erreur binaire (BERT) et exerciseur et analyseur de protocole à alignement de ...
Modules de Test
Module de test ultra-compact à 32 voies à monter sur toute carte applicative (14,1 Gbit/s)
Module de test ultra-compact à 32 voies pour montage sur toute carte d'application (12,5 Gbit/s)
Module de test ultra-compact à 32 voies à monter sur n’importe quelle carte applicative (8 Gbit/s)
Se monte directement sur une carte de charge ATE (14 Gbit/s)
Testeur hautement intégré se montant directement sur une carte de charge ATE (12,5 Gbit/s)
Vous avez des questions ? Consultez notre page FAQ ou contactez-nous pour toute demande de renseignements.
