Date : du 6 au 8 août 2024
Santa Clara Convention Center, Santa Clara, Californie
Heure de la présentation d’Introspect : jeudi 8 août, à 8 h 30
Vue d’ensemble
FMS : « The Future of Memory and Storage » est un salon international complet dédié à la mémoire et au stockage. Véritable pôle central pour le développement professionnel, la mise en relation au sein du secteur et l’engagement client, « The Future of Memory and Storage » offre une plateforme complète à tous les acteurs du secteur.
Présence introspective
Toujours à la pointe de l’innovation, Introspect a récemment lancé le premier système de test de mémoire GDDR7 au monde. Fort d’une longue expérience dans la création de solutions de test et de mesure pour les ingénieurs, le système de test de mémoire GDDR7 M5512 d’Introspect Technology est la première solution commerciale permettant de tester la toute nouvelle spécification SGRAM Graphics Double Data Rate (GDDR7) de la JEDEC. Présentant ses produits lors de salons et lors de présentations, Introspect est votre partenaire de référence pour tout ce qui concerne les tests de mémoire.
Démonstrations : stand n° 851
Découvrez comment le système de test de mémoire GDDR7 M5512 d’Introspect permet aux ingénieurs spécialisés dans la mémoire graphique, aux concepteurs de GPU et aux ingénieurs produit, tant dans le domaine de la mémoire que dans celui des GPU, de mettre rapidement en service de nouveaux dispositifs de mémoire GDDR7. De plus, soyez parmi les premiers à découvrir notre système de test de mémoire tout-en-un pour les modules de mémoire double rangée multiplexés DDR5 de nouvelle génération grâce au système de test de modules M5513 DDR5 MR-DIMM. Passez nous voir au stand n° 851 et participez à l’événement !
Exposé lors d’une conférence : Conception d’un système de test ATE sur banc à 72 canaux et 40 Gbit/s en PAM3 pour les mémoires GDDR7
La nouvelle spécification GDDR7 pose des défis en matière de test sans précédent dans le secteur. Dans cette présentation, Erin Holley, membre senior de l’équipe technique et ingénieure en chef chargée des solutions de mémoire chez Introspect, décrira la conception d’une solution de test pour les circuits intégrés de mémoire GDDR7. D’une part, la présentation décrira les compromis de conception analogique liés à la création d’un codage PAM3 bidirectionnel à faible latence à une telle échelle. D’autre part, elle décrira les multiples technologies numériques que nous avons déployées pour permettre des tests fonctionnels réels des cellules de mémoire au sein d’un circuit intégré GDDR7. Enfin, Mme Holley présentera des solutions logicielles innovantes pour la planification des commandes et les tests de résistance des mémoires GDDR7.
Venez assister à cette présentation dans le cadre du volet « Tests et performances » , le 8 août à 8 h 30.
Inscription
Les inscriptions à cet événement sont désormais closes.
