Titre : Principes fondamentaux des tests de taux d’erreur sur les bits (Cours dispensé en chinois)
Date : jeudi 30 juillet 2020
Heure : 10 h 30 – 11 h 30, heure de Pékin
Vue d’ensemble
Dans ce webinaire, nous présentons le concept de communication sans erreur dans les liaisons numériques à haut débit. Nous décrivons ensuite la méthode fondamentale permettant de garantir une communication sans erreur, à savoir la réalisation d’un test du taux d’erreur binaire (BER). Nous abordons ensuite les différents facteurs contribuant au taux d’erreur binaire ainsi que les configurations de test correspondantes permettant de les vérifier. Nous concluons en décrivant les applications courantes qui nécessitent des tests BER, telles que DisplayPort, PCI Express, DDR5 et bien d’autres.
研讨会主题: 如何设计/优化/测试多通道高速模拟链路接收端&发射端信号质量
简介:
随着5G通讯技术的普及,电子装置与系统的复杂性和数据速率不断升高,工程师在测试这些装置时面临着更多的挑战。当数据速率较低时，单通道测试即可满足要求。但如果数据速率较高，工程师可能会遇到各式各样的串扰,抖动等问题。因此，在处理不同干扰源和干扰信号应用时，多通道测试就变得十分重要。本次在线研讨会您将学习到从如何优化&测试高速模拟链路的接收端,发射端的信号质量并达成Error-Free 的目标.
谁应与参加此次在线研讨会: 芯片设计物理层信号系统验证、信号质量验证工程、信号仿真工程、系统应用、失效分析与AE/FAE等部门
研讨会主题:
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- 影像误码率及其相应测试设置的主要因素：
o 发射端
o 通道
o 接收端
- 误码测试的应用案例:
o DisplayPort et DisplayPort intégré
o DDR5
o PCI Express
o PAM4
Présentation de l’intervenant :
Steven Chiang 是一位高速信号测试专家，在SerDes接口的测试与验证方面拥有超过15年的经验，如PCIe,高速SerDes 以及MIPI的C-PHY与D-PHY。
En tant qu’ingénieur d’application, il a été confronté à divers scénarios de test de liaisons à haut débit et a acquis une expérience professionnelle très précieuse en matière de validation de conception et de défis liés aux tests au niveau de la couche physique,
Nous avons également aidé de nombreux clients à développer avec succès des produits de liaisons numériques à haut débit et à mener à bien les tests de validation des fonctionnalités correspondantes.
