• Capacité de test multisite entièrement parallèle, avec contrôle individuel des motifs et du TEB par voie
  • Solution autonome avec séquenceurs d’alimentation et synthétiseurs d’horloge intégrés
  • Automatisation avec capacité de script intégrée pour minimiser le temps de test
  • Encombrement minimal et exigences d’E/S réduites
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AVANTAGES

  • Capacité de test multisite entièrement parallèle, avec contrôle individuel des motifs et du TEB par voie
  • Solution autonome avec séquenceurs d’alimentation et synthétiseurs d’horloge intégrés
  • Automatisation avec capacité de script intégrée pour minimiser le temps de test
  • Encombrement minimal et exigences d’E/S réduites

Fonctionnalités

Le module de test SerDes à connexion directe SV1D-12 est un testeur hautement intégré qui se monte directement sur une carte d’application ou de test, sans nécessiter de câbles. Il répond au besoin croissant de méthodologies de test Gbit/s parallèles et multi-site, au coût total le plus bas possible.

Le SV1D-12 offre une sélection continue du débit de données jusqu’à 12,5 Gbit/s. Il comprend 8 émetteurs indépendants avec des dégradations de signal, dont l’injection de gigue sinusoïdale et aléatoire, la désaccentuation TX et l’injection de décalage UI et sous-UI entre voies. Il comprend 8 récepteurs indépendants avec égalisation par canal, mesure du taux d’erreur binaire en véritable parallèle et commandes pour une mesure rapide de la marge d’œil. La communication avec l’ATE est assurée de manière transparente via un bus SPI et via une interface parallèle optionnelle pour des transferts de données étendus.

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