{"id":12849,"date":"2019-04-04T11:18:42","date_gmt":"2019-04-04T11:18:42","guid":{"rendered":"https:\/\/introspect.ca\/2019\/04\/04\/introspect-technologys-ultra-compact-test-module-addresses-need-for-at-speed-high-volume-manufacturing-test-of-mipi-devices\/"},"modified":"2026-06-22T19:14:00","modified_gmt":"2026-06-22T19:14:00","slug":"introspect-technologys-ultra-compact-test-module-addresses-need-for-at-speed-high-volume-manufacturing-test-of-mipi-devices","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/introspect.ca\/fr\/2019\/04\/04\/introspect-technologys-ultra-compact-test-module-addresses-need-for-at-speed-high-volume-manufacturing-test-of-mipi-devices\/","title":{"rendered":"Le module de test ultra-compact d’Introspect Technology r\u00e9pond au besoin de tests de production \u00e0 grande \u00e9chelle et \u00e0 pleine vitesse pour les dispositifs MIPI"},"content":{"rendered":"

Montr\u00e9al, Canada, <\/strong>le 4 avril 2019<\/strong> \u2014 Introspect Technology<\/a>, fabricant de produits innovants couvrant l’ensemble des besoins en mati\u00e8re d’instruments de test et de mesure multi-Gbps, a officiellement pr\u00e9sent\u00e9 aujourd’hui au public son module de test MIPI \u00e0 connexion directe SV4D<\/a>. Le SV4D est un module de test ultra-compact et hautement performant qui permet de r\u00e9aliser des tests de production \u00e0 vitesse r\u00e9elle sur les interfaces d’\u00e9metteurs ou de r\u00e9cepteurs C-PHY\u2120 ou D-PHY\u2120 de la MIPI\u00ae Alliance<\/a>. Ces interfaces sont largement utilis\u00e9es dans les capteurs d\u2019image, les pilotes d\u2019affichage et les dispositifs de type \u00ab syst\u00e8me sur puce \u00bb (SoC). Alors que les principaux fabricants de microcontr\u00f4leurs (MCU), de circuits ASSP et de puces d\u2019affichage b\u00e9n\u00e9ficient d\u00e9j\u00e0 de la capacit\u00e9 de cet outil \u00e0 effectuer le tri des plaquettes et les tests finaux, le SV4D promet de modifier consid\u00e9rablement le co\u00fbt des tests et d\u2019am\u00e9liorer la qualit\u00e9 des produits pour les clients fabriquant des dispositifs bas\u00e9s sur la norme MIPI. <\/p>\n

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Les nouvelles tendances du secteur se traduisent par des normes d’essai plus complexes et des d\u00e9fis suppl\u00e9mentaires pour les ing\u00e9nieurs produit <\/strong><\/h3>\n

Le processus de fabrication des semi-conducteurs s’appuie sur des \u00e9quipements de test automatis\u00e9s (ATE) pour garantir la qualit\u00e9 tout au long des diff\u00e9rentes \u00e9tapes de la fabrication et de l’assemblage des plaquettes. Dans ce domaine, les progr\u00e8s de la technologie des interfaces posent de nouveaux d\u00e9fis pour le test des protocoles \u00e0 haut d\u00e9bit. Par exemple, la demande de performances accrues de la part des utilisateurs finaux pousse la technologie MIPI haut de gamme destin\u00e9e aux cam\u00e9ras, aux \u00e9crans et aux interfaces sans fil \u00e0 passer de vitesses relativement faibles \u00e0 des d\u00e9bits de plusieurs gigabits par seconde et par voie. Conjugu\u00e9e \u00e0 la signalisation multiniveau complexe du MIPI, aux param\u00e8tres de synchronisation sophistiqu\u00e9s de la couche physique et aux niveaux de tension extr\u00eamement bas, cette tendance a consid\u00e9rablement limit\u00e9 la capacit\u00e9 \u00e0 utiliser les solutions ATE existantes pour atteindre une couverture \u00e9lev\u00e9e des d\u00e9fauts. <\/p>\n

Les fonctionnalit\u00e9s MIPI avanc\u00e9es du SV4D, sa vitesse de fonctionnement \u00e9lev\u00e9e et sa taille compacte nous ont permis de d\u00e9ployer une solution multisite<\/strong> \u00e0 haut parall\u00e9lisme sur notre<\/p><\/blockquote>\n

ATE existante<\/strong> \u00ab Alors que nous pouvions utiliser un ATE classique pour les tests param\u00e9triques en courant continu et une m\u00e9thodologie de boucle de retour pour les tests \u00e0 haute vitesse sur nos interfaces SerDes standard, nous ne parvenions pas \u00e0 trouver une solution capable d\u2019assurer la couverture des d\u00e9fauts n\u00e9cessaire pour les ports MIPI de nos dispositifs \u00bb, a d\u00e9clar\u00e9 Ibrahim Aljabiri, responsable senior de l\u2019ing\u00e9nierie produit et des tests chez Synaptics<\/a>. \u00ab Les fonctionnalit\u00e9s MIPI avanc\u00e9es du SV4D, sa vitesse de fonctionnement \u00e9lev\u00e9e et sa taille compacte nous ont permis de d\u00e9ployer une solution multisite \u00e0 haut parall\u00e9lisme sur notre ATE existant \u00bb, a-t-il poursuivi. <\/p>\n

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Pas de place pour l’erreur \u2014 Viser le z\u00e9ro d\u00e9faut<\/strong><\/h3>\n

Alors que de plus en plus de fabricants utilisent les interfaces MIPI pour des applications critiques en mati\u00e8re de s\u00e9curit\u00e9, nous assistons \u00e0 l’\u00e9mergence d’une volont\u00e9 d’atteindre z\u00e9ro d\u00e9faut par million d’unit\u00e9s exp\u00e9di\u00e9es en phase de production de masse (HVM). Pour atteindre un niveau de qualit\u00e9 quasi parfait en HVM, les interfaces MIPI doivent \u00eatre test\u00e9es \u00e0 grande vitesse et avec des formes d’onde de stimulation couvrant toute la gamme de complexit\u00e9 du protocole. Un produit visant l\u2019objectif \u00ab z\u00e9ro d\u00e9faut \u00bb exige du secteur des tests automatis\u00e9s qu\u2019il cr\u00e9e, en substance, un paradigme de test syst\u00e8me dans lequel une m\u00e9thodologie de test orient\u00e9e syst\u00e8me est mise en \u0153uvre. Comme l\u2019a expliqu\u00e9 le Dr Mohamed Hafed, directeur g\u00e9n\u00e9ral d\u2019Introspect Technology : \u00ab Nous avons constat\u00e9 que les ing\u00e9nieurs produit du monde entier cherchaient \u00e0 reproduire autant que possible les fonctionnalit\u00e9s au niveau syst\u00e8me lors du tri des plaquettes et du test final. Nous avons donc entrepris de cr\u00e9er un module de test de production tirant parti de nos couches physiques MIPI monolithiques uniques pour r\u00e9pondre pr\u00e9cis\u00e9ment \u00e0 ce besoin. Non seulement le SV4D est capable d\u2019effectuer des tests structurels \u00e0 l\u2019aide de modes de test de p\u00e9riph\u00e9riques abr\u00e9g\u00e9s, mais il est \u00e9galement capable de tester de mani\u00e8re exhaustive les couches de liaison et logicielles des p\u00e9riph\u00e9riques test\u00e9s. \u00bb <\/p>\n

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Le SV4D d\u2019Introspect Technology r\u00e9pond aux<\/strong> au besoin de nouvelles m\u00e9thodes de test en production<\/strong><\/h3>\n

Introspect Technology a con\u00e7u le module de test SV4D afin de r\u00e9pondre au besoin d’une m\u00e9thodologie de test parall\u00e8le, \u00e0 vitesse r\u00e9elle et orient\u00e9e syst\u00e8me sur les \u00e9quipements de test automatique (ATE), qui reproduise fid\u00e8lement l’application finale du dispositif test\u00e9. Offrant un niveau d’int\u00e9gration inimaginable avec des \u00e9quipements conventionnels, il peut \u00eatre utilis\u00e9 pour tester : <\/p>\n